А   Б  В  Г  Д  Е  Є  Ж  З  І  Ї  Й  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Ю  Я 


Ка-лінія

Ка-линии регистрируют непропорциональными счетчиком.

А), которые сняты на Ка-линии меди.

Схема системы газоразрядной лампы, используемой в фотоэлектронном спектрометре (текст. Излучение рентгеновской трубки содержит обычно больше компонент, чем Номинальные Ка-линии (см. Табл. 2.1), однако нежелательные линии можно подавить, Применяя комбинации фильтров. Для анализа F, Na , Mg, A1 и Si по их Ка-линиям в работе[96]использована одноканальная установка, созданная на основе спектрометра SRS-1. Наилучшие результаты получены с кристаллом-анализатором из стеарата свинца и проточным (с чистым метаном) пропорциональным счетчиком, имеющим окно из полиэтилентерефталатной пленки толщиной 0 4 мкм. Среднеквадратичная погрешность определения Na и F при содержании их в каучуке в количестве приблизительно 14 и 5% составляет 005 и 0 2% соответственно. Установка позволяет определять элементы вплоть до бора.

Влияние условий съемки на характер дифракционной картины ПВХ. Исключение флюоресцентного рассеяния значительно проще, поскольку наименьшая длина волны характеристическому спектра ПВХ, являющейся Ка-линией С1 с Я 4 БА, велика.

Из того, что все без исключения элементы, в которых Соответствующие области спектров доступны исследованию, имеют Ка-линии, непосредственно следует, что все элементы содержат определенный электрон, связанный в них одинаковым образом, и, следовательно, внутреннее строение в пределах сферы, соответствующей этому электрону, у всех элементов одинаково.

Из того что все без исключения элементы, в которых Соответствующие области спектров доступны исследованию, обнаруживают присутствие Ка-линии, непосредственно следует, что все элементы содержат определенный электрон, связанный в них одинаковым образом, и, следовательно, внутреннее строение в пределах сферы, соответствующей этому электрону, у всех элементов одинаково.

Ni имеет место при 150 0 пм. Ка-линии Ni примерно в три раза больше интенсивности К (5-ли-нии Ni, испускаемой мишенью. В отличие от оптической эмиссионной спектроскопии рентгено-флуоресцентный анализ основан на использовании характеристическому линий в спектре излучения флуоресценции атомов брома, испускаемого за счет перескоков электронов на первый Квантовые слой. Бром определяют по Вг Ка-линии с энергией в максимума 12 кэВ.

Этот метод является основным инструментом структурного анализа кристаллов. Существенно, конечно, и то обстоятельство, что все дифракционный лучи имеют одну и ту же длину волны , что позволяет воспользоваться Наиболее интенсивной Ка-линией линейчатого спектра. Основной недостаток метода - необходимость монокристаллического образца исследуемого вещества. К сожалению, этот недостаток непреодолим, и весь современный структурный анализ - определение атомного расположения в элементарной ячейке и решение других, более тонких задач строения ( см. гл. V, § 4) - основан на исследовании монокристаллов. Поэтому, в частности, получение достаточно крупных кристаллов в процессе синтеза (кристаллов миллиметрового размера) становится одной из насущных задач химического синтеза.

Атомы брома в анализируемой пробе возбуждают излучением рентгеновской трубки с различными антикатоде (Мо[361], W[498]Или Rh[776]) Или же портативными источниками радиоактивных изотопов 109Cd[390, 578, 698], 125J[868], 55Fe[822]и 241Am[868]с активностью 1 - 20 МКюри. Чаще всего применяют 109Cd из-за его невысокой стоимости, щодо большого периода полураспада (453 дня) и значимой величины сечения захвата фотовозбуждения. Однако некоторые авторы[868]отдают предпочтение изотопа 125J, несмотря на его меньший период полураспада (60 2 дня), Имея в виду хорошее разрешение возбуждающего (линия дочернего 125 То с энергией 27 марта кэВ) и испускаемого (Вг Ка-линия 12 кэВ) излучения, а также более Высокую точность и экс-прессность анализа.

Вероятно, особо следует сказать еще об одном виде измерений, связанном с интенсивным развитием в последнее время многослойное рентгеновской оптики - о измерении коэффициента отражения и разрешающей способности диспергирующих элементов для мягкой и ультрамягкой рентгеновской области. Для измерения коэффициентов отражения многослойных систем должна быть обеспечена возможность уотановкы углов падения в широком диапазоне скользящей углов - от 10 до практически нормального падения. Измерение разрешающей способности требует высокого спектрального разрешения монохроматора и достаточно малой угловой расходимости выходящего из монохроматора пучка. Если учесть, что параметры существующих сегодня многослойных систем, имеющих ширину на полувысоте кривой отражения, на Ка-линии С около 30 выходящий из монохроматора пучок должен иметь угловую расходимость Не хуже единиц угловых минут.

Рентгенофлуоресцентный метод пригоден для анализа высоколегированных сталей типа Cr-Ni-Co. Определение элементов, присутствующих в низких концентрациях, ограничено влиянием основы, поскольку испускаемое излучение слишком сильно поглощается другими элементами образца. Образцы, основу которых составляют элементы с большими атомнымы массами, поглощают больший процент излучения, чем более легкие элементы. Например, наличие Ni в сплаве А1 можно обнаружить с большей чувствительйостью, чем в стали или свинцово сплаве, где поглощение Ка-линии Ni очень велико. Предел обнаружения может составлять несколько миллионных долей.

В РЭС, как и в фотоэлектронной спектроскопии, измеряют кинетич. Ет фотоэлектронов; по закону сохранения энергии определяют энергии связи Эс, как внутр. Для возбуждения спектров обычно использ. Ка-линии А1 и Mg (энергия кванта составляет 1486 и 1255 эВ соотв. .