А   Б  В  Г  Д  Е  Є  Ж  З  І  Ї  Й  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Ю  Я 


Щілина - прилад

Щілини приладу прямі, симетричні. Об'єктиви коліматорів ахроматичні з просвітленими зовнішніми поверхнями.

У щілину приладу поміщають випробуваний зразок. Тумблер ІСО-АВТОМАТ встановлюють в положення АВТОМАТ і простягаютьзразок через щілину. Показання знімають з табло вольтметра.

Pаскритіе щілин приладу проводиться автоматично. Pаскритіе вхідної щілини здійснюється барабанчик 14 при відпущеному гвинті 15; розкриття вихідної щілини - барабанчик, що знаходяться з іншого бокуприладу, також при відпущеному гвинті.

Ширина щілини приладу, яку можна міняти в межах від 0 до 0 5 мм, визначає ширину спектральної лінії та її інтенсивність. Pабочую ширину щілини встановлюють рівною 005 мм, що відповідає 0 1 поділки шкали.

Знявши кришку щілиниприладу, проводять зйомку спектру. Експонують подібним чином спектри інших стандартних зразків і проб, зміщуючи кожен раз діафрагму Гартмана в положення 764 3 і 1 і виробляючи кожен раз зміну електродів при вимкненому генераторі.

Покладемо, що щілина приладунескінченно вузька і зображення її розширюється тільки внаслідок дифракції на краях призми. У цьому випадку апаратна функція розраховується за формулою фраунгоферових дифракції на прямокутному отворі, яким є краю призми або решітки.

Покладемо, що щілинаприладу нескінченно вузька і зображення її розширюється тільки внаслідок дифракції на краях призми. У цьому випадку апаратна функція розраховується за формулою фраунгоферових дифракції на прямокутному отворі, межами якої є краю призми або решітки.

Після установки ширини щілини приладу на необхідну величину і вибору необхідної довжини хвилі світла (як це зазначено вище) вводять в полум'я розчин. При наявності випромінювання в полум'ї при взятої довжині хвилі світла етрелка міліамперметра відхиляється. Повертають ручкувідлікового потенціометра за годинниковою стрілкою до приведення стрілки міліамперметра до нуля і відраховують величину фотоструму за шкалою пропускання. Якщо фототек великий і стрілка міліамперметра поворотом ручки відлікового потенціометра не наводиться до нуля, зменшуютьширину щілини спектрофотометра або знижують чутливість приладу шляхом обертання ручки чутливість потенціометра, поки відліки не будуть виходити в межах шкали.

Підводять штатив впритул до щілини приладу і закріплюють його до рейки. При середніх положенняхмеханізмів переміщення електродів виставляють електроди на відстані 2 мм один від іншого. Вертикальним зсувом електродів і горизонтальної регулюванням рейки прагнуть до того, щоб проміжок між електродами був розташований навпроти і на одному рівні зперекрестием кришки щілини.

Схема накладення спектрів різних порядків для дифракційної. Припустимо, що на щілину приладу падає випромінювання тільки однієї довжини хвилі X; тоді на не обмеженої нічим фотоплатівці вийде 2k +1 спектральних ліній даної довжини хвилі.

Описані вище випадки освітлення щілини приладу є граничними.

Поперечна збіжність, створювана щілинами іонно-оптичних приладів. Виведено вираз для поперечної збіжності в мас-спектрометрі.

Установка для занурення.

Лак або фарбапроходять через щілину приладу, на підкладці залишається рівномірний шар, товщина якого дорівнює товщині щілини приладу. Товщину щілини встановлюють по каліброваним сталевим пластинкам.

Широко відкривши вхідну і вихідну щілини приладу, розташовують очей поблизу центрувихідний щілини (або фокальної прорізи спектрографа) так, щоб у нього потрапляла видима область спектру. Якщо джерело встановлений досить точно, то він видно в центрі колліматорноі лінзи. Потім рейтер відсувають на відстань 50 - 100 см від щілини. При правильній установцірейки положення джерела щодо центру коліматора не повинно зміщуватися. У більшості випадків рейок скріплений з приладом і забезпечений установочними гвинтами для додання йому правильного положення. Контроль ведуть по положенню джерела щодо центруколіматора. Потім точкове джерело замінюють іншим, з яким буде вестися робота. При цьому також повинна дотримуватися незмінність положення зображення джерела щодо колліматорноі лінзи при переміщенні уздовж рейки.

Широко відкривши вхідну і вихіднущілини приладу, розташовують очей поблизу центру вихідної щілини (або фокальної прорізи спектрографа) так, щоб у нього потрапляла видима область спектру. Якщо джерело встановлений досить точно, то він видно в центрі коліматорні лінзи. Потім рейтер відсувають на відстань50 - 100 см від щілини. При правильній установці рейки положення джерела щодо центру коліматора не повинно зміщуватися. У більшості випадків рейок скріплений з приладом і забезпечений установочними гвинтами для додання йому правильного положення. Контроль ведуть поположенню джерела щодо центру коліматора. Потім точкове джерело замінюють іншим, з яким буде вестися робота. При цьому також повинна дотримуватися незмінність положення зображення джерела щодо коліматорні лінзи при переміщенні уздовжрейки.

Випромінювання аналізованого зразка проектується на щілину приладу спектрографа, який за допомогою призми (або дифракційної решітки) розкладає випромінювання в спектр. Спектр випромінювання і є аналітичним сигналом, який дає інформацію про якісний такількісному складі речовини. Критерієм кількісного аналізу є величина інтенсивності спектральної лінії, критерієм якісної оцінки є присутність у спектрі ліній певної довжини хвилі.

Вплив різних спотворень на контур лінійкомбінаційного розсіювання. Pассмотрім, як враховується вплив щілини приладу на контур лінії комбінаційного розсіювання.

При вузьких щілинах завдяки дифракції на щілині приладу заповнення коліматора може бути повним і в тих випадках, коли конденсорних система такогозаповнення не забезпечує. З іншого боку, якщо кутова аппертура конденсорних системи більше необхідної для забезпечення повного заповнення коліматора, то в наближенні геометричної оптики це не дає виграшу в кількості корисного світла, пропущеногоприладом; однак внаслідок дифракції на вхідної щілини деякий, правда дуже невеликий, виграш можна отримати.

На рис. 1: щ - щілина приладу ІАБ-451; s - досліджувана неоднорідність; Н - ніж Фуко; 03 і 04 - лінзи перехідної системи; 0 і 02 - об'єктиви приладу ІАБ-451. На деякійвідстані від дзеркала по дузі кола розташований ряд лінз прямокутної форми, зібраний в лінзову вставку. Діючі отвори цих лінз визначаються діафрагмами ич. Перед першим об'єктивом розташований діафрагма - з квадратними отворами Д, якіпроектуються на лінзову вставку так, що в кожен момент часу світло проходить тільки через одну лінзу в якомусь ряду. Для чотирирядною вставки діафрагма має чотири отвори, зміщених по горизонталі і вертикалі, для дворядної - два.

Збільшенезображення дуги фокусують в площині щілини приладу. Дугу запалюють між двома вугільними електродами, на які нанесений розчин.

Форма смуги поглинання залежить від ширини щілини спектрометричного приладу, однак на величину інтегрального поглинання ширина щілинине робить великого впливу.

При роботі ступінчастий ослабителя встановлюють перед щілиною приладу. Для правильної роботи ослабителя слід стежити за рівномірним освітленням щілини по висоті. Правильність освітлення можна перевірити фотометрірованія спектральнихліній уздовж їх довжини на спектрограмме в різних місцях.

Схема зчленування поляриметра зі спектральним приладом. У другому випадку, коли перед щілиною Sp приладу встановлений на лімбі аналізатор N, перед кожною зйомкою спектрограми його повертають на деякий кут.Потім відшукують в спектрограмах місця рівних почернений і за відомим кутку аналізатора розраховують ступінь поляризації. Оптична система, зображена на рис. 400 являє собою послідовне з'єднання систем поляриметра Корню і звичайного спектрографа.

Графік для визначення нікелю, міді, свинцю і цинку в сульфідних опадах. На відстані 30 - 40 мм від щілини приладу поміщають екран фомежуточного зображення дуги з висотою діафрагми 6 мм. ГОСТ), проявник стандартний, метолгідрохіноновий; ремя прояви 4 хв.

На відстані 30 - 40 мм від щілини приладу поміщають екран проміжного зображення дуги з висотою діафрагми 6 мм. Застосовують фотопластинки спектральні, типу I або діапозитивні, бажано найменшою чутливості (025 - 0 5 одиниць по ГОСТ), проявник стандартний,метолгідрохіноновий; час прояву 4 хв.

Графік для визначення нікелю, міді, свинцю і цинку в сульфідних опадах. На відстані 30 - 40 мм від щілини приладу поміщають екран проміжного зображення дуги з висотою діафрагми 6 мм. Застосовують фотопластинкиспектральні, типу I або діапозитивні, бажано найменшою чутливості (025 - 0 5 одиниць по ГОСТ), проявник стандартний, метолгідрохіноновиі; час прояву 4 хв.

На відстані 30 - 40 мм від щілини приладу поміщають екран проміжного зображення дуги звисотою діафрагми б мм. Застосовують фотопластинки спектральні, типу I або діапозитивні, бажано найменшою чутливості (025 - 0 5 одиниць по ГОСТ), проявник стандартний, метолгідрохіноновий; час прояву 4 хв.

Спектр заліза, отриманий на Призмовіспектрографі (видна крі. Поряд з дефектами призм, кінцева ширина щілини приладу або зерно фотопластинки також обмежують можливості дозволу приладу, іноді ще до того, як вони обмежуються дифракцією.

Використовується кварцовий спектрограф середньоїдисперсії, ширина щілини приладу 002 мм, освітлення за допомогою трехлінзо-вої системи конденсорів, проміжна діафрагма - висотою 1 2 - 3 2 мм, в залежності від чутливості фотопластинок.

Використовують кварцовий спектрограф середньої дисперсії, ширина щілини приладу 001 мм.Аналізований матеріал поміщається в кратер графітового електрода глибиною 6 мм, діаметром 2 мм.

При порушенні спектра в іскрі використовують ширину щілини приладу 0018 мм, джерело світла з трьохлінзові конденсорних системою, проміжну круглу діафрагму. Іскровийгенератор включається за складною схемою, ємність конденсатора 001 мкФ, самоіндукція 005 мкГ, задаючий іскровий проміжок 3 мм, робочий іскровий проміжок 2 мм. Генератор регулюється на отримання одного цуга за напівперіод живлячої струму. Верхній електрод вугільний,діаметром б мм, заточений на конус з майданчиком діаметром - 1 мм.

Умови для отримання спектрів: спектрограф ІСП-28 щілина приладу 001 мм, конденсор однолінзового, генератор дуги змінного струму ДГ-1 (ПС-39), сила струму 10 - 12 а, експозиція 40 сек.

Принципова схемаспектрального приладу. Найбільш важливими частинами спектральних приладів є диспергуючу пристрій і щілину приладу, так як спектральна лінія - це її монохроматичне зображення. Основною деталлю щілини є її щічки. Проміжок між щічками повинен бутиправильної форми, краї щічок строго паралельні й скошені у вигляді ножа, щоб відбитий від них світло не потрапляло в прилад. Щічки розсуваються за допомогою мікрометричного гвинта, що дозволяє встановлювати її ширину з точністю до 0001 мм. Pабочая ширина щілини становить 0005 - 0020 мм, тому найменше її забруднення призводить до спотворення спектра і помилок в аналізі.

Для аналізу застосовують спектрограф ІСП-51 з камерою УФ-84 щілина приладу шириною 001 мм висвітлюється за допомогою трьохлінзові системи конденсорів. Спектр збуджується в дузі змінногоструму, при аналізі металевих зразків струм дуги складає 12 а, при аналізі концентрату 6 а, підставний електрод - вугільний, заточений на усічений конус. При аналізі концентрату останній поміщають у кратер глибиною - 4 мм. Міжелектродний проміжок 2 0 мм,попередній випал при аналізі металевих проб 15 сек, при аналізі концентрату він не рекомендується.

Змінена схема освітлення спектрографа. Це було досягнуто за рахунок видалення дзеркала і освітлення щілини приладу 7 (рис. 1) не відбитим, а безпосереднімвипромінюванням.

Для аналізу застосовують кварцовий спектрограф середньої дисперсії, ширина щілини приладу 0015 мм. Освітлення щілини за допомогою стандартної трьохлінзові системи конденсорів (проміжна діафрагма-кругла) або без предщелевой оптики. Вибір величиниіндуктивності у вторинній ланцюга обумовлений необхідністю визначати відносно малі вмісту нікелю. Генератор регулюється на отримання одного цуга коливань за напівперіод живлячої струму. При використанні дугового збудження застосовується генератор ДГ-2 вдуговом режимі[26]та ін), струм дуги 5 а. Генератор регулюється на отримання одного цуга коливань за напівперіод струму в ланцюзі підпалу. Підставний електрод - вугільний або мідний стрижень.

Користуються спектрографом середньої дисперсії з кварцовою оптикою, ширина щілиниприладу 003 мм. Щоб не сталося диафрагмирования пучка світла краями зразка, його необхідно трохи нахилити в бік щілини. Форма кінця електрода повинна бути строго витримана, довжина міжелектродного проміжку 150 мм.

Взагалі ставлення максимумів інтенсивностівимірюється тоді, коли ширина щілини приладу мала в порівнянні з шириною лінії; якщо ширина щілини спектрального приладу велика в порівнянні з шириною лінії, то вимірюється відношення повних ін-тенсівпостей (СР

Найпростішим конденсором служить сферична позитивналінза, яка дає на щілини приладу зображення джерела. У залежності від положення конденсора і джерела на щілині можна отримувати зменшене чи збільшене зображення.

Чим менше розміри вхідний і вихідний діафрагм (чим уже щілини приладу), тим вище межадозволу щілинного приладу. Проте розміри діафрагми обмежуються дифракційними явищами. Величина вхідної щілини, коли її геометричне зображення дорівнює ширині центральної частини головного дифракційного максимуму, називається нормальною шириною щілини.

Викладений вище висновок теоретичної роздільної здатності спектрального приладу передбачає наявність нескінченно тонкої щілини приладу. Ширина і форма дифракційного максимуму істотно змінюються при збільшенні ширини щілини (докладно про це див § 21),тому реальна роздільна здатність в першу чергу залежить від ширини щілини спектрального приладу.

Логарифмічний (а і ступінчастий (б сектори. При роботі зі стигматичні спектрографом диск поміщається як можна ближче до щілини приладу.

Схема поджнгадуги постійного струму. /- Магнітний пускач. 2 - кнопка магнітного пускача. 3 - генератор дуги змінного струму (приведена схема генератора ПС-39 зі змінами та стабілізуючої приставкою. 4 - стабілізуюча приставка (R 60 - 150 ом, С - 4 - 6 мкф. 5 - штатив з електродами дуги. А- Амперметр постійного струму. ПТ - підведення постійного струму. ПP- Перекидний рубильник для вимірювання полярності електродів дуги. Лр - реостат. Потрібні почорніння можуть бути досягнуті зміною інтенсивності світла, що направляється на щілину приладу.

Як вже вказувалося, ця величина в залежності від відношення ширини щілини приладу до ширини досліджуваної лінії може бути пропорційна інтенсивності в піке лінії /о (величина, застосовувана головним чином при вирішенні аналітичних задач), інтегральної інтенсивності - /ю або мати деяке проміжне значення. З іншого боку, для ліній, інтенсивність яких вже досягла насичення, подальше збільшення ширини щілини веде до зменшення величини відношення сигнал - шум за рахунок зростання суцільного фону (мал. 139) і таким чином знижується точність вимірювань. Оскільки більшість ліній комбінаційного розсіяння розташоване в порівняно невеликому інтервалі частот порядку 1500 см-1 зі збільшенням ширини щілини зростає переналоженіе сусідніх ліній, що може призвести до додаткових помилок.

Освітлення щілини растровим конденсором. У момент випускання фотона атом може мати певну швидкість в напрямі до щілини приладу або від неї. У цих випадках відбувається зміна довжини хвилі (ефект Доплера) і тим більша, чим вище швидкості атомів. Коли ж випромінюють частки переміщаються перпендикулярно напрямку на прилад, лінії виходять найбільш вузькими, наприклад, в умовах високочастотної іскри ефектом Доплера можна знехтувати.

Вибір освітлювальної лінзи. А - джерело світла, L - освітлювальна лінза, S - щілина приладу, Л - об'єктив коліматора.

Ще більші похибки можуть мати місце при неправильному виборі реальної спектральної ширини щілини приладу. Нехай в спектрі є ізольована смуга, істинне розподіл інтенсивності в якій має вигляд, показаний на рис. 5.16 (1), де 6v1 /2-ширина цієї смуги.

Усунення світла, відбитого від плоскої поверхні лінзи. S - щілина, S - її уявне зображення, 1 /- плоско-опукла лінза, В - екран,P- Фокальна поверхню. | Усунення світла, відбитого від задньої поверхні плоско-опуклої лінзи. S - щвль, S - її дійсне зображення, L - лінза, В - екран,P- Фокальна поверхню. Світло, відбите від поверхні оптики, може фокусуватися поблизу задньої поверхні щілини приладу. Щічки щілини відображають його, в результаті з'являються слабкі супутники у сильних ліній або крила у інструментального контуру. Для боротьби з цим рекомендується невеликий нахил лінз, що прибирає зображення щілини з її щічок, а також ретельне чорніння задньої сторони щілини.